{"id":623,"date":"2001-11-19T22:29:58","date_gmt":"2001-11-19T21:29:58","guid":{"rendered":"http:\/\/metrica.com.pl\/?p=623"},"modified":"2024-07-08T10:03:48","modified_gmt":"2024-07-08T08:03:48","slug":"slownik-pojec-metrologicznych","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/slownik-pojec-metrologicznych\/","title":{"rendered":"S\u0142ownik poj\u0119\u0107 metrologicznych"},"content":{"rendered":"<div id=\"pl-623\" class=\"panel-layout\">\n<div id=\"pg-623-0\" class=\"panel-grid panel-no-style\" data-style=\"{&quot;background_image_attachment&quot;:false,&quot;background_display&quot;:&quot;tile&quot;,&quot;lsow_dark_bg&quot;:&quot;&quot;,&quot;cell_alignment&quot;:&quot;flex-start&quot;}\" data-ratio=\"1\" data-ratio-direction=\"right\">\n<div id=\"pgc-623-0-0\" class=\"panel-grid-cell\" data-weight=\"1\">\n<div id=\"panel-623-0-0-0\" class=\"so-panel widget widget_sow-editor panel-first-child panel-last-child\" data-index=\"0\" data-style=\"{&quot;widget_css&quot;:&quot;text-align: justify&quot;,&quot;background_image_attachment&quot;:false,&quot;background_display&quot;:&quot;tile&quot;}\">\n<div class=\"panel-widget-style panel-widget-style-for-623-0-0-0\">\n<div class=\"so-widget-sow-editor so-widget-sow-editor-base\">\n<h3 class=\"widget-title\">Definicje i terminy dotycz\u0105ce metrologii i narz\u0119dzi pomiarowych<\/h3>\n<div class=\"siteorigin-widget-tinymce textwidget\">\n<p>S\u0142ownik poj\u0119\u0107 metrologicznych to wykaz wa\u017cniejszych definicji zwi\u0105zanych z pomiarami i metrologi\u0105. Dwa dokumenty \u017ar\u00f3d\u0142owe dla aktualnie stosowanych definicji to:<\/p>\n<ul>\n<li>\u201cMi\u0119dzynarodowy s\u0142ownik metrologii. Poj\u0119cia podstawowe i og\u00f3lne terminy z nimi zwi\u0105zane (VIM); PKN-ISO\/IEC Guide 99:2010.<\/li>\n<li>PN-EN ISO 14978:2007: Specyfikacje geometrii wyrob\u00f3w (GPS) &#8212; Poj\u0119cia og\u00f3lne i wymagania dotycz\u0105ce sprz\u0119tu pomiarowego do GPS <strong>(Aktualne wydanie PN-EN ISO 14978:2019-02 &#8211; wersja angielska)<\/strong><\/li>\n<\/ul>\n<\/div>\n<hr class=\"stag-divider stag-divider--plain\" \/>\n<div class=\"siteorigin-widget-tinymce textwidget\">\n<p><em><strong>Podstawowe definicje, jednostki<br \/>\n<\/strong><\/em><\/p>\n<p><strong>Metrologia<\/strong> \u2013 nauka o pomiarach i ich zastosowaniach. Obejmuje wszystkie teoretyczne i praktyczne problemy zwi\u0105zane z pomiarami, niezale\u017cnie od rodzaju wielko\u015bci mierzonej i dok\u0142adno\u015bci pomiar\u00f3w.<\/p>\n<hr \/>\n<p><em><strong>Pomiary, przyrz\u0105dy pomiarowe<\/strong><\/em><\/p>\n<p><strong>Wyposa\u017cenie pomiarowe<\/strong> \u2013 przyrz\u0105d pomiarowy, oprogramowanie, wzorzec jednostki miary, materia\u0142 odniesienia lub aparatura pomocnicza lub ich kombinacja, niezb\u0119dne do przeprowadzenia procesu pomiarowego.<\/p>\n<p><strong>Przyrz\u0105d pomiarowy<\/strong> \u2013\u00a0urz\u0105dzenie, uk\u0142ad pomiarowy lub jego elementy, przeznaczone do wykonywania pomiar\u00f3w, samodzielnie lub w po\u0142\u0105czeniu z jednym lub z wieloma urz\u0105dzeniami dodatkowymi; wzorce miary i materia\u0142y odniesienia s\u0105 traktowane jako przyrz\u0105dy pomiarowe (GUM)<\/p>\n<p>lub<\/p>\n<p><strong>Przyrz\u0105d pomiarowy<\/strong> \u2013 urz\u0105dzenie s\u0142u\u017c\u0105ce do wykonywania pomiar\u00f3w, u\u017cyte indywidualnie lub w po\u0142\u0105czeniu z jednym lub wi\u0119cej urz\u0105dzeniami dodatkowymi. UWAGA 1 \u2013 przyrz\u0105d pomiarowy, kt\u00f3ry mo\u017ce by\u0107 u\u017cywany pojedynczo jest uk\u0142adem pomiarowym. UWAGA 2 \u2013 przyrz\u0105d pomiarowy mo\u017ce by\u0107 przyrz\u0105dem pomiarowym wskazuj\u0105cym lub miar\u0105 materialn\u0105 (PKN).<\/p>\n<p><strong>Uk\u0142ad pomiarowy<\/strong> \u2013 zbi\u00f3r obejmuj\u0105cy jeden lub wi\u0119cej przyrz\u0105d\u00f3w pomiarowych, cz\u0119sto inne urz\u0105dzenia w tym odczynniki i zasilanie, po\u0142\u0105czone i przystosowane do generowania warto\u015bci wielko\u015bci zmierzonej, w okre\u015blonych przedzia\u0142ach wielko\u015bci okre\u015blonych rodzaj\u00f3w.<\/p>\n<p><strong>Proces pomiarowy, pomiar<\/strong> \u2013 zbi\u00f3r operacji niezb\u0119dnych do wyznaczenia warto\u015bci wielko\u015bci.<\/p>\n<p><strong>Metoda pomiarowa<\/strong> \u2013 og\u00f3lny opis logicznego uporz\u0105dkowania dzia\u0142a\u0144 wykonywanych przy pomiarze<\/p>\n<p><strong>Procedura pomiarowa<\/strong> \u2013 szczeg\u00f3\u0142owy opis pomiaru pozostaj\u0105cy w zgodno\u015bci z jedn\u0105 lub wi\u0119cej zasad\u0105 pomiaru oraz z dan\u0105 metod\u0105 pomiarow\u0105, oparty na modelu pomiaru i zawieraj\u0105cy spos\u00f3b oblicze\u0144 niezb\u0119dnych do otrzymania wyniku pomiaru<\/p>\n<p><strong>B\u0142\u0105d pomiaru<\/strong> \u2013 r\u00f3\u017cnica mi\u0119dzy wynikiem pomiaru, a\u00a0warto\u015bci\u0105 &#8222;prawdziw\u0105&#8221; wielko\u015bci mierzonej.<\/p>\n<p><strong>MPE \u2013 Maximum Permissible Error &#8211;<\/strong> Maksymalny dopuszczalny b\u0142\u0105d przyrz\u0105du pomiarowego, inaczej b\u0142\u0105d graniczny. Okre\u015blany w normach lub poprzez specyfikacj\u0119 producenta.<\/p>\n<p><strong>Dok\u0142adno\u015b\u0107 przyrz\u0105du pomiarowego<\/strong><i> &#8211;<\/i> zdolno\u015b\u0107 przyrz\u0105du pomiarowego do dawania wynik\u00f3w bliskich warto\u015bci prawdziwej.<\/p>\n<p><strong>Klasa dok\u0142adno\u015bci przyrz\u0105du<\/strong> \u2013 klasa przyrz\u0105d\u00f3w pomiarowych, spe\u0142niaj\u0105cych okre\u015blone wymagania metrologiczne i\u00a0kt\u00f3rych b\u0142\u0119dy mieszcz\u0105 si\u0119 w\u00a0wyznaczonych granicach. Klas\u0119 dok\u0142adno\u015bci oznacza si\u0119 na\u00a0og\u00f3\u0142 liczb\u0105 lub znakiem przyj\u0119tym umownie i\u00a0nazywanym oznaczeniem klasy.<\/p>\n<p><strong>System zarz\u0105dzania pomiarami \u00a0<\/strong>\u2013 zbi\u00f3r wzajemnie powi\u0105zanych lub wzajemnie oddzia\u0142uj\u0105cych element\u00f3w niezb\u0119dnych do osi\u0105gni\u0119cia potwierdzenia metrologicznego i\u00a0ci\u0105g\u0142ego sterowania procesami pomiarowymi.<\/p>\n<p><strong>Potwierdzenie metrologiczne<\/strong> \u2013 zbi\u00f3r operacji wymaganych do zapewnienia, \u017ce wyposa\u017cenie pomiarowe jest zgodne z\u00a0jego zamierzonym u\u017cyciem.<\/p>\n<hr \/>\n<p><em><strong>Wzorcowanie<\/strong><\/em><\/p>\n<p><strong>Wzorcowanie, kalibracja<\/strong>\u00a0\u2013 zbi\u00f3r operacji ustalaj\u0105cych w\u00a0okre\u015blonych warunkach relacj\u0119 mi\u0119dzy warto\u015bciami wielko\u015bci mierzonej wskazanymi przez przyrz\u0105d pomiarowy lub uk\u0142ad pomiarowy albo warto\u015bciami reprezentowanymi przez wzorzec miary lub przez materia\u0142 odniesienia, a\u00a0odpowiednimi warto\u015bciami wielko\u015bci realizowanymi przez wzorce jednostki miary. Wynik wzorcowania pozwala na\u00a0przypisanie wskazaniom odpowiednich warto\u015bci wielko\u015bci mierzonej lub na\u00a0wyznaczenie poprawek wskaza\u0144. Wzorcowanie mo\u017ce r\u00f3wnie\u017c s\u0142u\u017cy\u0107 do wyznaczenia innych w\u0142a\u015bciwo\u015bci metrologicznych, jak na\u00a0przyk\u0142ad efekt\u00f3w wielko\u015bci wp\u0142ywaj\u0105cych. Potwierdzeniem wykonania jest \u015bwiadectwo wzorcowania.<\/p>\n<p>lub<\/p>\n<p><strong>Wzorcowanie, kalibracja<\/strong> \u2013 dzia\u0142anie, kt\u00f3re w pierwszym kroku ustala zale\u017cno\u015b\u0107 pomi\u0119dzy odwzorowywanymi przez wzorzec pomiarowy warto\u015bciami wielko\u015bci wraz z ich niepewno\u015bciami pomiaru, a odpowiadaj\u0105cymi im wskazaniami wraz z ich niepewno\u015bciami, a w drugim kroku wykorzystuje t\u0119 informacj\u0119 do ustalenia zale\u017cno\u015bci pozwalaj\u0105cej uzyska\u0107 wynik pomiaru na podstawie wskazania. UWAGA 1 \u2013 Efektem wzorcowania mo\u017ce by\u0107 protok\u00f3\u0142, funkcja wzorcowania, wykres wzorcowania, krzywa wzorcowania albo tablica wzorcowania. W niekt\u00f3rych przypadkach mo\u017ce ona sk\u0142ada\u0107 si\u0119 z poprawek lub mno\u017cnik\u00f3w poprawkowych wskazania wraz z towarzysz\u0105c\u0105 niepewno\u015bci\u0105. UWAGA 2 \u2013 Wzorcowania nie nale\u017cy myli\u0107 z adiustacj\u0105 uk\u0142adu pomiarowego, cz\u0119sto mylnie nazywan\u0105 \u201csamowzorcowaniem\u201d, ani z weryfikacj\u0105 wzorcowania. UWAGA 3 \u2013 Cz\u0119sto za wzorcowanie uwa\u017cany jest sam pierwszy krok wspomniany w powy\u017cszej definicji. (Definicja ze s\u0142ownika PKN)<\/p>\n<p><strong>Legalizacja<\/strong> \u2013 zesp\u00f3\u0142 czynno\u015bci obejmuj\u0105cych sprawdzenie, stwierdzenie i po\u015bwiadczenie dowodem legalizacji, \u017ce przyrz\u0105d pomiarowy spe\u0142nia wymagania metrologiczne. Dotyczy przyrz\u0105d\u00f3w podlegaj\u0105cych pod wymagania dyrektywy MID.<\/p>\n<p><strong><a title=\"Sp\u00f3jno\u015b\u0107 pomiarowa\" href=\"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wzorcowanie\/spojnosc-pomiarowa\/\">Sp\u00f3jno\u015b\u0107 pomiarowa<\/a><\/strong> \u2013 w\u0142a\u015bciwo\u015b\u0107 wyniku pomiaru lub wzorca jednostki miary polegaj\u0105ca na\u00a0tym, \u017ce mo\u017cna je powi\u0105za\u0107 z\u00a0okre\u015blonymi odniesieniami, na\u00a0og\u00f3\u0142 z\u00a0wzorcami pa\u0144stwowymi lub mi\u0119dzynarodowymi jednostkami miary, za\u00a0po\u015brednictwem nieprzerwanego \u0142a\u0144cucha por\u00f3wna\u0144, z\u00a0kt\u00f3rych wszystkie maj\u0105 okre\u015blone niepewno\u015bci. Sp\u00f3jno\u015b\u0107 pomiarowa charakteryzowana jest przez sze\u015b\u0107 podstawowych element\u00f3w:<\/p>\n<ul>\n<li>Nieprzerwany \u0142a\u0144cuch por\u00f3wna\u0144;<\/li>\n<li><a title=\"Niepewno\u015b\u0107 pomiaru\" href=\"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/do-pobrania\/niepewnosc-pomiaru\/\">Niepewno\u015b\u0107 pomiaru<\/a>;<\/li>\n<li>Dokumentacja;<\/li>\n<li>Kompetencje;<\/li>\n<li>Odniesienie do jednostek SI;<\/li>\n<li>Odst\u0119py czasu mi\u0119dzy wzorcowaniami.<\/li>\n<\/ul>\n<p>lub<\/p>\n<p><strong>Sp\u00f3jno\u015b\u0107 pomiarowa \u2013\u00a0<\/strong>powi\u0105zanie z wzorcami pomiarowymi. W\u0142a\u015bciwo\u015b\u0107 wyniku pomiaru, przez kt\u00f3rej wynik mo\u017ce by\u0107 zwi\u0105zany z odniesieniem przez udokumentowany, nieprzerwany \u0142a\u0144cuch wzorcowa\u0144, z kt\u00f3rych ka\u017cde wnosi sw\u00f3j udzia\u0142 do niepewno\u015bci pomiaru (PKN).<\/p>\n<p><strong>Niepewno\u015b\u0107 pomiaru <\/strong>&#8211; parametr zwi\u0105zany z\u00a0wynikiem pomiaru, charakteryzuj\u0105cy rozrzut warto\u015bci, kt\u00f3re mo\u017cna w\u00a0uzasadniony spos\u00f3b przypisa\u0107 wielko\u015bci mierzonej.\u00a0Takim parametrem mo\u017ce by\u0107 na przyk\u0142ad odchylenie standardowe (lub jego wielokrotno\u015b\u0107) albo po\u0142owa szeroko\u015bci przedzia\u0142u odpowiadaj\u0105cego okre\u015blonemu poziomowi ufno\u015bci.<br \/>\nNiepewno\u015b\u0107 pomiaru zawiera na og\u00f3\u0142 wiele sk\u0142adnik\u00f3w. Niekt\u00f3re z nich mo\u017cna wyznaczy\u0107 na podstawie rozk\u0142adu statystycznego wynik\u00f3w szeregu pomiar\u00f3w i mo\u017cna je scharakteryzowa\u0107 odchyleniem standardowym eksperymentalnym. Inne sk\u0142adniki, kt\u00f3re mog\u0105 by\u0107 r\u00f3wnie\u017c scharakteryzowane odchyleniami standardowymi, s\u0105 szacowane na podstawie zak\u0142adanych rozk\u0142ad\u00f3w prawdopodobie\u0144stwa opartych na do\u015bwiadczeniu. (GUM)<\/p>\n<p>lub<\/p>\n<p><strong>Niepewno\u015b\u0107 pomiaru &#8211;<\/strong> nieujemny parametr charakteryzuj\u0105cy rozproszenie warto\u015bci wielko\u015bci przyporz\u0105dkowany do mezurandu, obliczony na podstawie uzyskanej informacji (PKN)<\/p>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Definicje i terminy dotycz\u0105ce metrologii i narz\u0119dzi pomiarowych S\u0142ownik poj\u0119\u0107 metrologicznych to wykaz wa\u017cniejszych definicji zwi\u0105zanych z pomiarami i metrologi\u0105. Dwa dokumenty \u017ar\u00f3d\u0142owe dla aktualnie&hellip;<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":624,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"om_disable_all_campaigns":false,"_monsterinsights_skip_tracking":false,"_monsterinsights_sitenote_active":false,"_monsterinsights_sitenote_note":"","_monsterinsights_sitenote_category":0,"_jetpack_newsletter_access":"","_jetpack_dont_email_post_to_subs":false,"_jetpack_newsletter_tier_id":0,"_jetpack_memberships_contains_paywalled_content":false,"two_page_speed":[],"_jetpack_memberships_contains_paid_content":false,"footnotes":"","jetpack_publicize_message":"","jetpack_publicize_feature_enabled":true,"jetpack_social_post_already_shared":false,"jetpack_social_options":{"image_generator_settings":{"template":"highway","default_image_id":0,"font":"","enabled":false},"version":2},"jetpack_post_was_ever_published":false},"categories":[22,26,16],"tags":[],"class_list":["post-623","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-narzedzia-pomiarowe","category-pomiary","category-wzorcowanie","post-grid"],"aioseo_notices":[],"jetpack_publicize_connections":[],"jetpack_featured_media_url":"https:\/\/metrica.com.pl\/wp-content\/uploads\/2018\/11\/literature-3324242_1280.jpg","jetpack_sharing_enabled":true,"jetpack_shortlink":"https:\/\/wp.me\/paNP3I-a3","_links":{"self":[{"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/623","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=623"}],"version-history":[{"count":11,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/623\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":2467,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/623\/revisions\/2467"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/media\/624"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=623"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=623"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=623"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}