{"id":1335,"date":"2020-07-27T11:59:04","date_gmt":"2020-07-27T09:59:04","guid":{"rendered":"https:\/\/metrica.com.pl\/?page_id=1335"},"modified":"2025-09-30T20:50:25","modified_gmt":"2025-09-30T18:50:25","slug":"tolerancje-i-wymagania","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/tolerancje-i-wymagania\/","title":{"rendered":"Errors and limits of measuring instruments"},"content":{"rendered":"

Dopuszczalne b\u0142\u0119dy przyrz\u0105d\u00f3w pomiarowych podawane s\u0105 przez r\u00f3\u017cne znormalizowane dokumenty. Obecnie wi\u0119kszo\u015b\u0107 standard\u00f3w ujednolicana jest do postaci ISO, zast\u0119puj\u0105c lokalne np. DIN. Zgodno\u015b\u0107 z nimi zachowuj\u0105 tak\u017ce ameryka\u0144skie odpowiedniki ASME.<\/p>\n\n\n\n

Wymagania dotycz\u0105ce przyrz\u0105d\u00f3w suwmiarkowych – ISO 13385<\/u>:2019<\/h1>\n\n\n\n

Wa\u017cna zmiana! Aktualnie \u017ar\u00f3d\u0142em wymaga\u0144 odno\u015bnie suwmiarek nie jest ju\u017c norma DIN 862. Wymagania metrologiczne zosta\u0142y zawarte w nowym wydaniu ISO 13385, kt\u00f3ra do tej pory opisywa\u0142a aspekty konstrukcyjne suwmiarek. Poni\u017csza tabela przedstawia warto\u015bci dopuszczalnych b\u0142\u0119d\u00f3w wskaza\u0144 dla przyrz\u0105d\u00f3w suwmiarkowych wed\u0142ug aktualnego wydania ISO 13385. Podane warto\u015bci b\u0142\u0119d\u00f3w dotycz\u0105 suwmiarek noniuszowych, elektronicznych i czujnikowych, wysoko\u015bciomierzy suwmiarkowych, linia\u0142\u00f3w suwmiarkowych i innych przyrz\u0105d\u00f3w typu suwmiarkowego. Wi\u0119cej na ten temat: w tym artykule.<\/a><\/p>\n\n\n\n

Aktualne wymagania – norma ISO 13385:2019:<\/p>\n\n\n\n

\"dopuszczalne<\/figure>\n\n\n\n

<\/p>\n\n\n\n

Poprzednia wersja – DIN 862:2015 – WYCOFANA!<\/p>\n\n\n

\n
\"DIN862<\/figure>\n<\/div>\n\n\n

<\/p>\n\n\n\n

Dopuszczalne b\u0142\u0119dy przyrz\u0105d\u00f3w pomiarowych – mikrometry zewn\u0119trzne ISO 3611:2023 – NOWA!<\/h2>\n\n\n\n

Od 2023 roku obowi\u0105zuje nowa norma dotycz\u0105ca mikrometr\u00f3w zewn\u0119trznych. Podaje dopuszczalne b\u0142\u0119dy wskaza\u0144 tym samym zast\u0119puj\u0105c DIN 863-1. Norma wprowadza wiele istotnych zmian, w tym podzia\u0142 na klasy od 0 do 3 <\/strong>na podstawie znalezionych odchy\u0142ek. <\/p>\n\n\n\n

\"dopuszczalne<\/figure>\n\n\n\n
\"Dopuszczalne
Dopuszczalne b\u0142\u0119dy mikrometr\u00f3w zewn\u0119trznych<\/figcaption><\/figure>\n\n\n\n

Wymagania dotycz\u0105ce pozosta\u0142ych przyrz\u0105d\u00f3w mikrometrycznych znajdziemy nadal w DIN 863<\/p>\n\n\n\n

Tabele poni\u017cej zawieraj\u0105 dopuszczalne odchy\u0142ki krytycznych parametr\u00f3w sprawdzanych podczas wzorcowania przyrz\u0105d\u00f3w mikrometrycznych<\/a>. Tabele pochodz\u0105 z norm DIN 863. Normy z grupy DIN 863 oznaczone s\u0105 numerami od 1 do 4 i dotycz\u0105 nast\u0119puj\u0105cych grup narz\u0119dzi mikrometrycznych:<\/p>\n\n\n\n

DIN 863-1:2017 \u2013 mikrometry zewn\u0119trzne, WYCOFANA!<\/strong><\/p>\n\n\n\n

\"din<\/figure>\n\n\n\n

<\/p>\n\n\n\n

DIN 863-2 \u2013 g\u0142owice mikrometryczne i g\u0142\u0119boko\u015bciomierze mikrometryczne<\/p>\n\n\n\n

DIN 863-3 \u2013 mikrometry zewn\u0119trzne specjalne<\/p>\n\n\n\n

DIN 863-4 \u2013 mikrometry wewn\u0119trzne i \u015brednic\u00f3wki mikrometryczne<\/p>\n\n\n

\n
\"DIN863-4<\/figure>\n<\/div>\n\n\n

<\/p>\n\n\n\n

Dopuszczalne b\u0142\u0119dy przyrz\u0105d\u00f3w pomiarowych – Mechaniczne czujniki d\u0142ugo\u015bci – DIN 878<\/h3>\n\n\n\n

Poni\u017cej tabela z dopuszczalnymi odchy\u0142kami parametr\u00f3w sprawdzanych w trakcie wzorcowania mechanicznych czujnik\u00f3w d\u0142ugo\u015bci. Dane pochodz\u0105 z normy DIN 878:2006-06.<\/p>\n\n\n

\n
\"Dopuszczalne
Dopuszczalne b\u0142\u0119dy przyrz\u0105d\u00f3w pomiarowych – czujniki tarczowe wg DIN 878<\/figcaption><\/figure>\n<\/div>\n\n\n

Dopuszczalne odchy\u0142ki p\u0142ytek wzorcowych d\u0142ugo\u015bci – ISO 3650<\/h2>\n\n\n\n

Norma ISO 3650 okre\u015bla dopuszczalne odchy\u0142ki na p\u0142ytki wzorcowe d\u0142ugo\u015bci. Dodatkowo w celu orzeczenia klasy p\u0142ytki wzorcowej wyznacza si\u0119 tak\u017ce odchy\u0142k\u0119 od p\u0142asko\u015bci powierzchni pomiarowych.<\/p>\n\n\n\n

Przymiary sztywne – DIN 866<\/h3>\n\n\n\n

Wymagania odno\u015bnie dok\u0142adno\u015bci i wykonania przymiar\u00f3w sztywnych typ\u00f3w A (kreskowe) oraz B (kra\u0144cowo \u2013 kreskowe) okre\u015bla norma DIN 866. Podane poni\u017cej warto\u015bci b\u0142\u0119d\u00f3w dopuszczalnych b\u0142\u0119d\u00f3w wskaza\u0144 MPE pochodz\u0105 z wydania DIN 866:2006-12.<\/p>\n\n\n

\n
\"DIN866<\/figure>\n<\/div>\n\n\n

<\/p>\n\n\n\n

Wymagania dotycz\u0105ce k\u0105townik\u00f3w stalowych wed\u0142ug DIN 875<\/h3>\n\n\n\n

Poni\u017csze tabele przedstawiaj\u0105 dopuszczalne odchy\u0142ki kluczowych dla k\u0105townik\u00f3w stalowych parametr\u00f3w. Dotycz\u0105 one k\u0105townik\u00f3w dwuramiennych powierzchniowych i kraw\u0119dziowych.<\/p>\n\n\n

\n
\"Wymagania
Wymagania dotycz\u0105ce k\u0105townik\u00f3w stalowych wed\u0142ug DIN 875<\/figcaption><\/figure>\n<\/div>\n\n\n

Linia\u0142y kraw\u0119dziowe – tolerancja prostoliniowo\u015bci wg DIN 874-2:2003-11<\/h3>\n\n\n\n

Dopuszczalne odchy\u0142ki od prostoliniowo\u015bci linia\u0142\u00f3w kraw\u0119dziowych podano w tabeli. UWAGA: linia\u0142y kraw\u0119dziowe nie podlegaj\u0105 pod klasy dok\u0142adno\u015bci z DIN 874-1, kt\u00f3ra ustala wymagania dla linia\u0142\u00f3w powierzchniowych (p\u0142aszczyznowych)\"\"<\/p>\n\n\n\n

Linia\u0142y powierzchniowe (p\u0142aszczyznowe) – tolerancja p\u0142asko\u015bci wg DIN 874-1:2003-11<\/h3>\n\n\n\n

Dopuszczalne odchy\u0142ki od p\u0142asko\u015bci linia\u0142\u00f3w powierzchniowych podano w tabeli.<\/p>\n\n\n

\n
\"\"\/<\/figure>\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Dopuszczalne b\u0142\u0119dy przyrz\u0105d\u00f3w pomiarowych podawane s\u0105 przez r\u00f3\u017cne znormalizowane dokumenty. Obecnie wi\u0119kszo\u015b\u0107 standard\u00f3w ujednolicana jest do postaci ISO, zast\u0119puj\u0105c lokalne np. DIN. Zgodno\u015b\u0107 z nimi…<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":1252,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"om_disable_all_campaigns":false,"_monsterinsights_skip_tracking":false,"_monsterinsights_sitenote_active":false,"_monsterinsights_sitenote_note":"","_monsterinsights_sitenote_category":0,"two_page_speed":[],"footnotes":""},"class_list":["post-1335","page","type-page","status-publish","has-post-thumbnail","hentry","post-grid"],"aioseo_notices":[],"jetpack_sharing_enabled":true,"jetpack_shortlink":"https:\/\/wp.me\/PaNP3I-lx","_links":{"self":[{"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/1335","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1335"}],"version-history":[{"count":19,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/1335\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":2735,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/1335\/revisions\/2735"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1252"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/metrica.com.pl\/en\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1335"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}